18c0693f

Архитектура тестовой системы AVM


Тестовые системы, создаваемые с использованием технологии AVM, должны быть разбиты на несколько слоев (см. Рис. 1). Самый нижний уровень — это RTL-модель тестируемого устройства (DUT, Design Under Test). Над ним находится прослойка транзакторов (transactors) — компонентов тестовой системы, осуществляющих преобразование потока входных транзакций во входные сигналы тестируемой модели и наоборот преобразование выходных сигналов тестируемой модели в поток выходных транзакций.

Примерами транзакторов являются:

Следующим слоем является так называемый слой операций (operational layer). Компоненты этого уровня образуют тестовое окружение необходимое тестируемой модели. К ним относятся:

Далее следует слой анализа (analysis layer), компоненты которого проверяют корректность поведения тестируемой модели, оценивают полноту тестирования и выполняют некоторые другие функции.
Основными компонентами этого уровня являются:

На самом верху находится слой управления, включающий в себя один единственный компонент — контроллер теста (test controller), который осуществляет координацию работы других компонентов тестовой системы. Рис. 1 иллюстрирует многослойную структуру тестовой системы. Каждый прямоугольник соответствует определенному слою. В левой части указано его название, в правой — основные компоненты тестовой системы, образующие данный слой. Стрелки показывают взаимодействие между слоями.

Рисунок 1. Слои тестовой системы AVM



Все публикации раздела