IEEE.2003.1-1992 IEEE Standard for Information Technology — Test Methods for Measuring Conformance to POSIX — Part 1: System Interfaces. IEEE, New York, NY, USA, 1992. ISBN 1-55937-275-3.
Домашняя страница CUnit.
TETware User Guide.
GTKVTS Readme.
В.В.Кулямин, Н.В.Пакулин, О.Л.Петренко, А.А.Сортов, А.В.Хорошилов. Формализация требований на практике. Препринт ИСП РАН, Москва, 2006.